Fourniture d'un polisseur ionique

Appel d'offres

Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) - Centre de Paris-Saclay

2025-03-13

FournituresLaboratoire (fourniture)200 k€ (estimé)
Une attribution a été publiée.
La microscopie à balayage (MEB) couplé à la spectrométrie à sélection d’énergie (EDS) et/ou la diffraction d’électrons rétrodiffusé (EBSD) est couramment employée pour la caractérisation de produits de corrosion/d’oxydation et pour l’étude des microstructures. Une préparation métallographique par polissage mécanique suivi ou non d’une attaque chimique ou électrochimique est indispensable pour caractériser la surface des échantillons. Dans le cas de la corrosion en milieu fondu (sels ou métaux), les produits de corrosion sont solubles dans l’eau et les lubrifiants usuels ne peuvent être utilisés. Lorsqu’il s’agit de couches d’oxydes très fines, les contraintes mécaniques engendrées par le polissage peuvent mener à leur endommagement. Les attaques chimiques ou électrochimiques peuvent conduire à une dissolution sélective de l’échantillon. L’utilisation d’un polisseur ionique permet de s’affranchir de ces artefacts de préparation.

Informations générales

Dates importantes

  • Date de clôture : 28/04/2025 14:00 (cloturé)

Autres informations

Localisation :
91191 Gif-sur-Yvette
  • Départements de publication : Essonne (91)
  • Identifiant interne : B24-06379-CM

Lots

Fourniture d'un polisseur ionique

LOT-0001
Fournitures
La microscopie à balayage (MEB) couplé à la spectrométrie à sélection d’énergie (EDS) et/ou la diffraction d’électrons rétrodiffusé (EBSD) est couramment employée pour la caractérisation de produits de corrosion/d’oxydation et pour l’étude des microstructures. Une préparation métallographique par polissage mécanique suivi ou non d’une attaque chimique ou électrochimique est indispensable pour caractériser la surface des échantillons. Dans le cas de la corrosion en milieu fondu (sels ou métaux), les produits de corrosion sont solubles dans l’eau et les lubrifiants usuels ne peuvent être utilisés. Lorsqu’il s’agit de couches d’oxydes très fines, les contraintes mécaniques engendrées par le polissage peuvent mener à leur endommagement. Les attaques chimiques ou électrochimiques peuvent conduire à une dissolution sélective de l’échantillon. L’utilisation d’un polisseur ionique permet de s’affranchir de ces artefacts de préparation.
Identifiant interneB24-06379
Localisation
91191 Gif-sur-Yvette

Acheteurs

Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) - Centre de Paris-Saclay

SIRET: 77568501900488

AdresseCEA Paris-Saclay CEA/P-SAC/SMA - Bâtiment 530, 91191, Gif-sur-Yvette
Site Webwww.cea.fr

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