Fourniture d'un polisseur ionique
Avis d'attribution
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) - Centre de Paris-Saclay
2025-10-02
La microscopie à balayage (MEB) couplé à la spectrométrie à sélection d’énergie (EDS) et/ou la diffraction d’électrons rétrodiffusé (EBSD) est couramment employée pour la caractérisation de produits de corrosion/d’oxydation et pour l’étude des microstructures. Une préparation métallographique par polissage mécanique suivi ou non d’une attaque chimique ou électrochimique est indispensable pour caractériser la surface des échantillons. Dans le cas de la corrosion en milieu fondu (sels ou métaux), les produits de corrosion sont solubles dans l’eau et les lubrifiants usuels ne peuvent être utilisés. Lorsqu’il s’agit de couches d’oxydes très fines, les contraintes mécaniques engendrées par le polissage peuvent mener à leur endommagement. Les attaques chimiques ou électrochimiques peuvent conduire à une dissolution sélective de l’échantillon. L’utilisation d’un polisseur ionique permet de s’affranchir de ces artefacts de préparation.
Informations générales
- Procédure : Appel d'offres ouvert
- Classification CPV : 38000000 - Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes)
Autres informations
Localisation :
91191 Gif-sur-Yvette
- Départements de publication : Essonne (91)
- Identifiant interne : B24-06379-CM
Lots
Fourniture d'un polisseur ionique
LOT-0001Fournitures
La microscopie à balayage (MEB) couplé à la spectrométrie à sélection d’énergie (EDS) et/ou la diffraction d’électrons rétrodiffusé (EBSD) est couramment employée pour la caractérisation de produits de corrosion/d’oxydation et pour l’étude des microstructures. Une préparation métallographique par polissage mécanique suivi ou non d’une attaque chimique ou électrochimique est indispensable pour caractériser la surface des échantillons. Dans le cas de la corrosion en milieu fondu (sels ou métaux), les produits de corrosion sont solubles dans l’eau et les lubrifiants usuels ne peuvent être utilisés. Lorsqu’il s’agit de couches d’oxydes très fines, les contraintes mécaniques engendrées par le polissage peuvent mener à leur endommagement. Les attaques chimiques ou électrochimiques peuvent conduire à une dissolution sélective de l’échantillon. L’utilisation d’un polisseur ionique permet de s’affranchir de ces artefacts de préparation.
Identifiant interneB24-06379
Date de début2025-09-22
Date de fin2033-01-22
Localisation
91191 Gif-sur-Yvette
Résultats
Montant de l'attribution
238.58 k€attribué à MILEXIA France
Offres reçues4
Acheteurs
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) - Centre de Paris-Saclay
ORG-0001SIRET: 77568501900488
AdresseCEA Paris-Saclay CEA/P-SAC/SMA - Bâtiment 530, 91191, Gif-sur-Yvette
Site Webwww.cea.fr
Fournisseurs
MILEXIA France
ORG-0003Identifiant: B719804817
AdresseEspace Technologique de Saint-Aubin, 91190, SAINT-AUBIN
Lots attribués
LOT-0001238.58 k€
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