Acquisition d'un diffractomètre à rayons X pour l'analyse de couches minces et de poudres, équipé d'une chambre haute température et d'outils avancés pour l'étude de la texture et la mesure de l'épaisseur par réflectivité de rayons X
Avis d'attribution
Université d'Artois
2026-07-01
FournituresEquipements spécialisés
Lot N° 1 - Acquisition d'un diffractomètre à rayons X pour l'analyse de couches minces et de poudres, équipé d'une chambre haute température et d'outils avancés pour l'étude de la texture et la mesure de l'épaisseur par réflectivité de rayons X
Nombre d'offres reçues : 2
Date d'attribution : 06/11/25
Marché n° : 2025-33
Malvern Panalytical, 24 rue émile Baudot - Bâtiment le Phénix , 91120 Palaiseau
Montant Ht : 280 000,00 Euros
Informations générales
- Avis d'attribution N° 26-65257
- Procédure : Procédure adaptée
- Classification CPV : 38530000 - Diffractographes
Autres informations
- Départements de publication : Pas-de-Calais (62)
Acheteurs
Documents
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