Equipement de Microscopie électronique à balayage et cathodoluminescence résolu en temps

Avis d'attribution

CEA Grenoble

2025-09-30

Pour ses activités de recherche, le CEA-LETI souhaite acquérir un équipement de cathodoluminescence résolue en temps. Les domaines d'application comprennent les matériaux ou les dispositifs pour les LED, l'électronique de puissance, le photovoltaïque et la photoélectronique, où la nano et la microstructuration sont présentes. La caractérisation de la composition, de la déformation ou des défauts spécifiques au matériau (par exemple, les dislocations) ou liés au processus de fabrication de l'échantillon est essentielle pour toutes ces applications. Cet outil aura une haute résolution spatiale en imagerie électronique secondaire, permettant la caractérisation de nanostructures dont les dimensions sont de l'ordre de la dizaine de nanomètres (par exemple, nanofils, puits quantiques, dislocations). La gamme spectrale optique devrait couvrir au moins 200 nm à 800 nm avec une résolution spectrale de 1 nm pour les spectres d'étude et de 0,1 nm pour les spectres à haute résolution. Le marché envisagé comprend les options suivantes : o Option 3 : Formation à la Maintenance de premier niveau o Option 4 : Formation à la Maintenance avancée et les options à chiffrage facultatif suivantes: o Option 5 : échangeurs de chaleur/chiller

Informations générales

Autres informations

Localisation :
Grenoble
  • Départements de publication :
  • Identifiant interne : B25-00819-SN

Informations complémentaires de l'avis

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Lots

Equipement de Microscopie électronique à balayage & cathodoluminescence résolu en temps

LOT-0001
Fournitures
Pour ses activités de recherche, le CEA-LETI souhaite acquérir un équipement de cathodoluminescence résolue en temps. Les domaines d'application comprennent les matériaux ou les dispositifs pour les LED, l'électronique de puissance, le photovoltaïque et la photoélectronique, où la nano et la microstructuration sont présentes. La caractérisation de la composition, de la déformation ou des défauts spécifiques au matériau (par exemple, les dislocations) ou liés au processus de fabrication de l'échantillon est essentielle pour toutes ces applications. Cet outil aura une haute résolution spatiale en imagerie électronique secondaire, permettant la caractérisation de nanostructures dont les dimensions sont de l'ordre de la dizaine de nanomètres (par exemple, nanofils, puits quantiques, dislocations). La gamme spectrale optique devrait couvrir au moins 200 nm à 800 nm avec une résolution spectrale de 1 nm pour les spectres d'étude et de 0,1 nm pour les spectres à haute résolution. Le marché envisagé comprend les options suivantes : o Option 3 : Formation à la Maintenance de premier niveau o Option 4 : Formation à la Maintenance avancée et les options à chiffrage facultatif suivantes: o Option 5 : échangeurs de chaleur/chiller
Identifiant interneB25-00819-SN
Durée prévue1 an
Résultats
Montant de l'attribution
1 €attribué à CL Solutions B.V
Offres reçues1

Acheteurs

CEA Grenoble

ORG-0001

SIRET: 77568501900298

Adresse17 rue des Martyrs, 38054, Grenoble
Site Webwww.cea.fr

Fournisseurs

CL Solutions B.V

ORG-0003

Identifiant: 76832155

AdresseOostsingel 209, 2612 HL Delft, 2612, Delft
Lots attribués
LOT-00011 €

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