Historique de la consultation : Le marché a pour objet la fourniture d'un banc de test sous pointes pour la caractérisation électrique de composants intégrés et d'un analyseur de réseaux vectoriel pour le Centre d'Etudes et de Recherche Technologiques en Microélectronique (CERTeM). Les prestations font l'objet de 2 lots traités par marché séparés.