Système de microscopie électronique (MEB) couplé à un faisceau d'ions focalisé (FIB)
Appel d'offres
ENS Paris-Saclay
2024-04-20
Informations générales
- Appel d'offres N° 24-46556
- Procédure : Appel d'offres ouvert
- Classification CPV : 38512100 - Microscopes ioniques
Lots
Système de microscopie électronique (MEB) couplé à un faisceau d'ions focalisé (FIB)
LOT-0001Fournitures
Identifiant interne2024-008
Durée prévue2 ans
Date de début2024-07-01
Acheteurs
Documents
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