Système de microscopie électronique (MEB) couplé à un faisceau d'ions focalisé (FIB)
Appel d'offres
2024-04-20
Système de microscopie électronique (MEB) couplé à un faisceau d'ions focalisé (FIB)
Lots
Système de microscopie électronique (MEB) couplé à un faisceau d'ions focalisé (FIB)
LOT-0001Fournitures
Acheteurs
Documents
Appels d'offres similaires
5 mars 2026 | Clôture:Date de clôture: 17 avr. 2026, 14:00
FournituresLaboratoire (matériel)
22 févr. 2026 | Clôture:Date de clôture: 31 mars 2026, 11:00
FournituresLaboratoire (matériel)
19 févr. 2026 | Clôture:Date de clôture: 24 mars 2026, 12:00
FournituresLaboratoire (matériel)