Système de microscopie électronique (MEB) couplé à un faisceau d'ions focalisé (FIB)
Appel d'offres
2024-04-20
Système de microscopie électronique (MEB) couplé à un faisceau d'ions focalisé (FIB)
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Système de microscopie électronique (MEB) couplé à un faisceau d'ions focalisé (FIB)
LOT-0001Fournitures
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